随着电子产业的不断飞速发展，与之相关的新型检测技术也在不断地涌现出来。常规的无损分析往往只能获得线路板表面的信息，难以提供完整的内部信息。X射线检测仪作为新兴的分析手段，可以实现在不破坏样品的前提下，检测出不可见缺陷，反映样品的内部信息。

　　随着消费电子和工业互联网的蓬勃发展，对于硬件支撑的电子技术提出了更高的要求，封装的小型化和组装的高密度化以及功能集成化的新型器件是现在电子技术的新方向;并且工艺质量的要求也越来越高。于是对检查的方法和技术提出了更高的要求。

　　为满足这一要求， X-Ray检测技术作为行业的典型代表，它不仅可对不可见焊点进行检测(如BGA等)，还可对检测结果进行定性、定量分析，以便及早发现故障，降低废品率。

　　X-RAY射线检测设备采用非破坏性微焦检查装置通过平板检测器接到的信号转换，可输出高质量的透视检查图像，将展现高质量，高放大倍率，高分辨率的被测物体图像给用户。

　　高精密电子焊接制程中易出现的缺陷包括：BGA假焊、元器件失效、焊锡过多形成锡球、形成焊接针孔气泡、有污染物、出现冷焊接点、焊锡空洞、有吹气孔等诸多现象。常规的无损分析往往难以有效地检测出这些缺陷，而X射线检测系统的出现恰恰填补了这一空白!

　　未来X-Ray检测设备的发展趋势一定是往高度智能化、自动化、数字化方向发展，同时X-Ray检测设备的应用会越来越多，市场前景非常广阔。